中圖儀器3D白光干涉表面形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
CEM3000高精度掃描電子顯微鏡憑借其簡便的操作系統,讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業領域展現出廣泛的應用價值,標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統,能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現微觀的形貌和元素分析等。
VT6000精密共聚焦顯微鏡所展示的圖像形態細節更清晰更微細,橫向分辨率更高。它具有直觀測量的特點,能夠有效提高工作效率,更加快捷準確地完成日常任務。借助共聚焦顯微鏡,能有效提高工作效率,實現更準確的操作。
中圖儀器納米形貌觀測掃描電鏡用的鎢燈絲電子槍,發射電流大、穩定性好,以及對真空度要求不高。緊湊的外型,能夠不受場地尺寸制約,真正做到了空間適用性,用戶甚至可以將其就近擺放在自己的桌面上。同時CEM3000也能根據用戶需求,輕松移機,一臺機器多處開花。
中圖儀器CEM3000高性能復合抗振系統掃描電鏡采用的鎢燈絲電子槍,發射電流大、穩定性好,以及對真空度要求不高。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統,能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現微觀的形貌和元素分析等。
NS系列臺階高微觀形貌參數測量儀線性可變差動電容傳感器(LVDC),具有亞埃級分辨率,13μm量程下可達0.01埃。能夠測量納米到330μm或1050μm的臺階高度,可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。
微信掃一掃